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環(huán)境可靠性試驗項目與試驗方法及要求

日期:2025-05-11 04:37
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摘要:環(huán)境可靠性試驗項目與試驗方法及要求

環(huán)境可靠性試驗項目與試驗方法及要求

一、安規(guī)電容可靠性試驗標準

GB/T 2423.1-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

GB/T 2123.2-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

GB/T 2423.3-1993電工電了產(chǎn)品基木環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法

GB/T 2123.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法

GB/T 6346.14、IEC 60384-14 安規(guī)電容可靠性試驗方法


環(huán)境可靠性試驗方法及要求

常用設備:恒溫恒濕試驗箱,高低溫試驗箱,UV老化試驗儀,鹽霧試驗箱,熱老化試驗箱

粵公網(wǎng)安備 44030602001687號